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產品簡介
x射線吸收精細結構(XAFS)譜儀,原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源,測量并分析材料對X射線的吸收系數隨光子能量變化的精細結構的大型實驗裝置。通過在反應過程中實時監測吸收邊的近邊(XANES)和擴展邊(EXAFS)信號,揭示材料在真實環境中的結構演化規律,為理解構效關系、優化材料設計提供直接依據。
| 品牌 | 創譜specreation | 應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源 |
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